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Semiconductor Material and Device Characterization (Hardcover, 3)
Dieter K. Schroder
IEEE | 2005년 12월 | 2005년 12월
67,000원 (2,010원)
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Simulation of MOSFETs BJTs and JFETs (Paperback) - at and near the Pinch-off Region
Dieter K. Schroder, Xuan Yang
LAP Lambert Academic Publishing | 2012년 01월 | 2012년 01월
97,800원 (10% 할인 / 4,890원)
택배로 주문하면 5월 28일 출고 변경

[eBook Code] Semiconductor Material and Device Characterization (eBook Code, 3rd)
Dieter K. Schroder
Wiley-IEEE Press | 2008년 05월 | 2008년 05월
234,320원 (20% 할인)
택배로 주문하면 5월 17일 출고 변경

[eBook Code] Semiconductor Material and Device Characterization (eBook Code, 3rd)
Dieter K. Schroder
Wiley-IEEE Press | 2006년 02월 | 2006년 02월
234,320원 (20% 할인)
택배로 주문하면 5월 17일 출고 변경

Proceedings of the Electrochemical Society Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices (Hardcover)
Dieter K. Schroder, P. Rai-Choudhury, J. L. Benton, T. J. Shaffner (엮은이)
Society of Photo Optical | 1997년 10월 | 1997년 10월
148,510원 (18% 할인 / 7,430원)
택배로 주문하면 5월 29일 출고 변경

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