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[외국도서] Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials: Scanning Probe Microscopy Approach (Hardcover)
- Scanning Probe Microscopy Approach
M. Alexe
,
A. Gruverman
(엮은이)
Springer Verlag
|
2004년 04월
|
2004년 04월
246,740
원 (18% 할인 / 12,340원)
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